Ansys Sherlock 自动化设计分析软件是一款基于可靠性物理/失效物理 (PoF) 商业的电子可靠性设计分析软件,在早期设计阶段为组件、主板和系统级的电子硬件提供快速、准确的寿命预测。大约 73% 的产品开发成本都耗费在测试-失败-修复-重复这一周期上。Sherlock 使设计人员能够准确地对硅金属层、半导体封装、印刷电路板 (PCB) 和组件进行建模,以预测由于热、机械和制造条件导致的焊料疲劳失效,从而加速这一过程。这有助于消除测试失败和设计缺陷,加快产品鉴定速度,并推出突破性技术。
失效物理 (PoF) 或可靠性物理利用退化算法描述物理、化学、机械、热或电气机构是如何随着时间推移发生衰退,并最终引起失效。该专用术语的出现是为了更好地预测早期电子部件和系统的可靠性;而且,PoF 概念在许多结构领域都很常见。
利用 PoF 和可靠性物理,Sherlock 可以准确预测新一代组件的失效行为,组件包括:
· 硅晶体管
· 丝焊
· 焊接凸块
· 晶圆连接
· 发光二极管
· 电解电容器
· 电镀穿孔
· 焊接接头
电气和机械工程师可以从项目开始时就联合采用 Sherlock 进行可靠性设计。设计团队利用 Sherlock 将设计规则、最佳实践和失效物理 (PoF) 方法集成为一体,包括:
· 用于早期分析的电子组件 3D 模型
· 轨迹建模
· 用于确定关键组件和预测失效时间的有限元仿真后处理
· 以前无法实现的可靠性预测
Sherlock 还可以加速传统可靠性度量设计,包括:
· 平均失效间隔时间 (MTBF)
· 设计失效模式与影响分析 (DFMEA)
· 热衰减
· PCB 建模与仿真:
堆叠:Sherlock 可识别所选材料整体属性有助于在玻璃和纤维中做出准确选择。
高保真 PCB:Sherlock 可识别 PCB 基板材料内的铜丝网特性,以确定潜在风险。
PCB 网格划分:Sherlock 可识别相同(整个)模型的均匀力学性能,以及分层模型中每一层的力学性能。
导线建模:Sherlock 可通过增加穿孔导线选择组件,还可查看 PCB 的 3D 虚拟结构。
· PCB 建模与仿真:
自动导入 ECAD 数据、生成 3D 模型并将属性分配给 3D 模型
将多种环境影响同时施加于特定参数测试
自动调整材料、堆叠和生命周期事件(热、冲击和振动)
利用经验证的模型对所有部件进行预测可靠性的 FEA 计算分析
几乎实时生成的自定义报告(每个 PCB 可达 100 页以上),以及数据集和图像导出功能
Sherlock 可以实现流程自动化,减少所需的资源,并更快地提供结果。几分钟内即可完成设计返工,根本无需几周或几月时间。
为了最大化利用可制造性设计 (DfM) 和可靠性设计 (DfR) 降低风险,Sherlock 将评估一些关键组件,包括:
· 焊接接头可靠性,以保证产品在给定条件下,规定的运行时间内,不会超过规定的失效级别
· 电镀穿孔疲劳,利用计算机建模和温度分布图代替人工界面,以获取准确的有限元测试结果
· 在冲击和振动测试期间进行应变测量,收集数据,最后预测失效概率、失效根本原因和失效事件
· 进行材料选择,使所选塑料属性能满足设计和功能要求
· 执行供应商分析,然后与始终提供不间断的高质量产品和服务的供应商建立合作关系
· 进行装配后处理操作评估,以确定生产后需要提高效率的领域
· 半导体损耗,允许制造商使用 SAE ARP 6338 方法评估和预测 IC 失效
Sherlock 可以减少所需的物理测试次数,提升原型在第一轮中通过合格认证测试的可能性。工程师可将可靠性设计融入电子产品,这样,他们就可以:
· 构建和测试虚拟产品
· 几乎实时修改设计
· 快速计算机械仿真
· 确定测试机会
· 评估设计方案
· 获取项目特定洞见
· 使可靠性目标达到标准和要求
将 Sherlock 作为您的测试计划的一部分,可以显著减少每项合格认证测试中多次迭代所需的时间和成本,包括:
温度循环
Sherlock 没有在传统方法的参数范围内将温度循环进行应用和工作,而是设计电路板时进行应用。确定失效组件及失效次数和类型,从而能在流程早期阶段更快地(通常成本也更低)进行修复。
电镀穿孔疲劳
在检测影响 PCB 功能的一些因素时,Sherlock 并不使用人工界面,而是基于来自焊接疲劳输入的温度分布图进行计算机建模,并利用板堆叠计算管体应力,以获取有限测试结果并设计补救措施。
振动和冲击
传统的振动和冲击测试概率方法无法准确推测出实际失效事件。Sherlock 可计算机械冲击和振动测试过程中的主板应力,然后利用数据预测失效概率,确定失效根本原因和相应的失效事件。
导电阳极丝 (CAF)
Sherlock 可直接从计算机钻孔文件收集钻孔位置和直径数据,然后根据钻孔大小过滤数据,并对一对孔之间的“损伤区”进行精准识别,以便进行集中分析。CAF 自动化认证方法可减少失效次数,确保在整个制造过程中的产品可靠性。
高加速寿命测试 (HALT) 和高加速应力筛选 (HASS)
HALT 和 HASS 是电子行业出色的设计验证工具。HALT 可提供关于设计裕度和缺陷的洞见;HASS 是针对失效运行组合的温度循环/振动 HALT 工具以及减少 95% 的持续时间的目标而开发。这样应该能确保只有 5% 的寿命损耗在 HASS 上;而且,它有助于通过 Sherlock 失效物理仿真确认此损耗。Sherlock 还能帮助测试/验证工程师改变 HASS 不同视角的剖面图,了解它们对所损耗寿命的影响。